Dieses Praktikerbuch bietet eine kompakte Übersicht zu wichtigen werkstoffanalytischen Verfahren, die jeweils auf einer Doppelseite kurz und übersichtlich dargestellt werden. Diese Verfahren dienen der Ermittlung von Eigenschaften und Defekten im makroskopischen, mikroskopischen und nanoskopischen Bereich....
Dieses Praktikerbuch bietet eine kompakte Übersicht zu wichtigen werkstoffanalytischen Verfahren, die jeweils auf einer Doppelseite kurz und übersichtlich dargestellt werden. Diese Verfahren dienen der Ermittlung von Eigenschaften und Defekten im makroskopischen, mikroskopischen und nanoskopischen Bereich. Darunter fällt insbesondere die Bestimmung der Materialzusammensetzung, der Kristallstruktur, der Phasen und der Realstruktur (z.B. Gitterkonstanten, Orientierungen, Eigenspannungen, Versetzungsdichten, Strukturdefekte) sowie weiterer werkstoffrelevanter Größen an Proben und Bauteilen. Der inhaltliche Zugang erfolgt wahlweise über die Anwendungsgebiete mit zugehörigen Verfahren oder über die Übersicht nach Verfahrensgruppen. In komprimierter Form werden die einzelnen Methodenbeschreibungen nach Anwendungen, Funktionsprinzip, Leistungsprofil und Probenpräparation untergliedert sowie mit jeweils typischen Instrumentierungs- und Applikationsbeispielen komplettiert.Das Kompendium bietet einen ersten Einstieg zur effektiven und zielsicheren Auswahl werkstoffdiagnostischer Methoden. Der Inhalt Bildgebende Verfahren.- Röntgenbeugung.- Elektronenbeugung.- Röntgenspektroskopie.- Elektronenspektroskopie.- Ionenspektroskopie.- Optische Spektroskopie.- Thermische Analyse.- Ultraschalltechnik. Die Zielgruppen Dieses übersichtlich gestaltete Werk empfiehlt sich für Ingenieure und Physiker in wissenschaftlichen Institutionen sowie in fast allen Bereichen der Industrie, vorzugsweise der Energietechnik, des Fahrzeug- und Maschinenbaus, der Luft- und Raumfahrt sowie der Mikro-und Nanoelektronik. Ebenso ist es für Studierende und Doktoranden der Werkstoffwissenschaft, der Elektrotechnik sowie der Physik hilfreich.
Professor Jürgen Bauch, Jahrgang 1956, studierte von 1977 bis 1982 Informationstechnik an der Technischen Universität Dresden und diplomierte mit einem Thema der Mikroelektroniktechnologie. Danach wechselte er an das Institut für Werkstoffwissenschaft (IfWW) der TU Dresden, promovierte und habilitierte sich dort 1986 bzw. 2001. Die Lehrbefugnis (Privatdozent) wurde ihm 2002 erteilt und 2009 folgte die Ernennung zum außerplanmäßigen Professor auf dem Gebiet der Physikalischen Werkstoffdiagnostik. Seit 2003 leitet er die Arbeitsgruppe Werkstoffdiagnostik am IfWW der TU Dresden, die das Röntgenographische Speziallabor betreibt. In der Forschung beschäftigt er sich mit der Neu- bzw. methodischen Weiterentwicklung röntgenographischer Verfahren. Prof. Bauch ist Autor einer großen Anzahl von Publikationen in referierten internationalen Zeitschriften, Tagungsbeiträgen, Mitautor des Lehrbuches "Funktionswerkstoffe der Elektrotechnik/ Elektronik" (Hrsg.: Nitzsche, K.; Ullrich, H.-J.) sowie Mitinhaber zahlreicher Patente. Seine Lehrtätigkeit an der TU Dresden umfasst eine Vorlesung auf dem Gebiet der Werkstoffe für Elektrotechniker, Mechatroniker und Energiesystemtechniker sowie mehrere Spezialvorlesungen für Werkstoffwissenschaftler auf den Gebieten der Physikalischen Werkstoffdiagnostik und der Mikroelektronikwerkstoffe. Dr. Rüdiger Rosenkranz, Jahrgang 1957, studierte von 1977 bis 1982 Physik an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, wo er zum Thema ferroelektrische Funktionskeramik diplomierte und später auch promovierte. Danach wechselte er an das Institut für Halbleiter- und Mikrosystemtechnik der TU Dresden. Dort beschäftigte er sich mit mehreren festkörperanalytischen Verfahren und deren Anwendung in der Mikroelektronik. Von 1994 bis 2009 war er in der Abteilung Physikalische Fehleranalyse eines großen Dresdner Mikroelektronikunternehmens tätig. Dort befasste er sich mit der Rasterelektronenmikroskopie, der Focused Ion Beam Technik und zahlreichen werkstoffdiagnostischen Verfahren. Seit 2009 arbeitet er am Institutsteil Materialdiagnostik des Fraunhofer Instituts für Keramische Technologien und Systeme. Dr. Rosenkranz ist Autor zahlreicher Veröffentlichungen und Tagungsbeiträge und ist Inhaber eines Patents. Auf einer großen Tagung zur Fehleranalyse in der Mikroelektronik in den USA hält er regelmäßig Tutorialvorträge über sein Spezialgebiet, die Fehlerlokalisierung mittels Potenzialkontrast in REM und FIB.
